Geavanceerde deeltjeskarakterisering voor complexe monsters
EOSDe CLASSIZER™ ONE, uitgerust met SPES/SPES² technologie, biedt geavanceerde deeltjeskarakterisering van submicron- en micrometergrote deeltjes in complexe vloeistoffen. Deze technologie is breed toepasbaar voor verschillende industrieën, waaronder milieuonderzoek. In milieuonderzoek bijvoorbeeld, helpt de deeltjesanalyse bij het begrijpen van de rol van deeltjes in stralingsoverdracht en hun langetermijneffecten op ecosystemen. Deeltjes worden ingedeeld in ultrafijn, fijn en grof, waarbij fijn en ultrafijn vaak ontstaan door industriële processen en grove deeltjes uit natuurlijke bronnen komen. Het nauwkeurig karakteriseren van deze deeltjes is essentieel voor het beoordelen van hun milieu-impact.
De CLASSIZER™ ONE biedt uitstekende prestaties bij het analyseren van polydisperse suspensies en levert realtime inzichten in het gedrag, de veroudering en de afbraak van de deeltjes. Dit is van grote waarde bij de deeltjesanalyse van nanodeeltjes, zoals zinkoxide-emulsies, in complexe vloeistoffen. Dankzij de unieke eigenschappen biedt het systeem diepgaander inzicht in de stabiliteit en interacties van de deeltjes, wat helpt bij het nauwkeuriger inschatten van hun langetermijneffecten op ecosystemen en de menselijke gezondheid. Milieuonderzoek is slechts één van de vele toepassingsgebieden voor deze technologie, denk ook aan de farmaceutische en chemische industrie en de agrarische en voedingsindustrie.
Belangrijkste voordelen
Nanomaterialen bestaan vaak uit mengsels van geheel of gedeeltelijk biobased materialen. Denk aan biomedische materialen en polymeermengsels. Bij R&D en kwaliteitscontrole van deze mengsels leveren traditionele methoden zoals LD en DLS gemiddelde gegevens over het gehele monster op. Daarbij worden alle deeltjes als hetzelfde beschouwd, alleen met verschillende afmetingen. Dit kan een beperking zijn bij verschillende R&D- en QC-taken. De SPES-deeltjeskarakteriseringsmethode lost dit probleem op
Heeft u interesse in onze dienstverlening?
Neem contact op voor meer informatie, wij helpen u graag verder met uw applicatie.