Deeltjesgroottte analyse met behulp van Differentiële Centrifugale Sedimentatie

Differentiële Centrifugale Sedimentatie (DCS) is een nieuwe en innovatieve, maar toch eenvoudige techniek voor het karakteriseren van deeltjesgrootte, die de laatste jaren weer de aandacht heeft. Eerdere beperkingen en problemen met de sedimentatietechniek zijn overwonnen door recente technologische ontwikkelingen en door slim te denken over instrumentatie en schijfontwerp. DCS is nu een krachtig hulpmiddel bij het meten van de grootteverdeling van nanodeeltjes tot ongeveer 2 nm.

Echte voordelen van het meten van deeltjes met Differentiële Centrifugale Sedimentatie

Met het unieke vermogen om zeer nauwe multimodale deeltjesverdelingen op te lossen en extreem kleine verschuivingen en veranderingen in deeltjesgrootte te onderscheiden, wint Differentiële Centrifugale Sedimentatie opnieuw aan populariteit. Het praktische bereik van de techniek is van ongeveer 2 nm tot 80 micron (het exacte bereik is afhankelijk van de dichtheid). Maar de echte voordelen boven de meer traditionele technieken voor het dimensioneren van nanodeeltjes (zoals Dynamic Light Scattering (DLS)) worden over het algemeen opgemerkt onder ongeveer 300 nm.

Deze Masterclass wordt gegeven door Steve Fitzpatrick, oprichter en ontwikkelaar van DCS en President van CPS Instruments Inc. De Masterclass is in het Engels.

Neem contact op met Product Manager Marc Steinmetz

Meer informatie over deeltjesanalyse met behulp van Differentiële Centrifugale Sedimentatie

Neem contact op met Marc voor meer informatie

Deeltjesgroottte analyse met behulp van Differentiële Centrifugale Sedimentatie

Inventech is dé specialist in analyse instrumenten voor het meten van Nano deeltjes