Bijzonder geschikt voor de analyse van macro-elementen, geheel homogene en minder homogene producten en producten in stromende vloeistoffen.
.webp)
Vochtmeting in papier en karton
Vochtgehalte is een van de meest kritische kwaliteitsparameters in de productie van papier en karton. Te veel vocht leidt tot dimensionale instabiliteit, schimmelvorming en kwaliteitsverlies; een te laag vochtgehalte verhoogt de breukgevoeligheid en verstoort de verdere verwerking. Nauwkeurige, realtime vochtmeting is daarmee onmisbaar voor een stabiel en efficient productieproces.
Waar u op kunt vertrouwen
Gecertificeerde engineers
Onze VCA gecertificeerde specialisten kennen uw instrumentatie en toepassing en bieden snel en deskundig ondersteuning op locatie.
Betrokken kennispartner
Wij begeleiden u in elke fase, van instrumentkeuze en integratie tot kalibratie, data interpretatie en onderhoud.
Maximaal rendement
Wij zetten onze expertise, instrumentatie en service in om uw meetoplossingen optimaal te laten presteren en maximaal te laten renderen.
Welke vochtmeettechnologie past bij uw toepassing?
Voor inline vochtmeting in papier en karton zijn twee meettechnologieen toonaangevend: nabij-infrarood (NIR) en microgolfresonantie. Beide technologieen kunnen vocht meten, maar elke methode heeft specifieke voordelen en beperkingen die sterk afhangen van de toepassing.
De juiste keuze hangt af van uw specifieke toepassing, productiesnelheid en materiaaleigenschappen. Wij helpen u die keuze gericht te maken.
NIR: snelle en contactloze inline vochtmeting in papierproductie
NIR analyse is de meest toegepaste inline methode voor vochtmeting in papierproductie. NIR meet contactloos en razendsnel, wat het geschikt maakt voor hoge productiesnelheden. Meerdere sensoren worden vaak gecombineerd in een verplaatsingssysteem om tegelijk dikte, kleur en vocht te monitoren aan het einde van de productielijn.
Bekijk ons aanbod NIR-analyzers voor vochtmeting in papier en karton.
Microgolfresonantie voor vochtmeting in papier en karton
Voor toepassingen waarbij oppervlaktemeting niet volstaat, biedt microgolfresonantie een betrouwbaar alternatief. De methode meet vocht door de volledige dikte van het product, onafhankelijk van kleur of oppervlaktestructuur. Dat maakt het bijzonder geschikt voor papier, karton en golfkarton, zowel inline als op losse monsters.
Belangrijkste voordelen:
Meting door de kern van het product, niet alleen het oppervlak.
Onafhankelijk van kleur en oppervlaktestructuur.
Zeer nauwkeurig in een vochtbereik tot circa 13%.
Direct meetresultaat, ook op losse vellen.
Geschikt voor snellopende papierbanen.
Detectie van splicing en mogelijkheid tot velletelling.
Wij zijn exclusief vertegenwoordiger van TEWS, een van de toonaangevende fabrikanten van microgolfresonantie-analyzers voor inline vochtmeting. Bekijk hier ons aanbod van TEWS instrumentatie.
Voor elke applicatie de juiste oplossing
Of u nu vocht meet in papierbanen, pulp of losse vellen, inline of at-line: wij hebben voor elke toepassing een passende analyseoplossing. Als exclusief vertegenwoordiger van TEWS, Headwall , ITPhotonics en Viavi combineren wij geavanceerde instrumentatie met diepgaande toepassingskennis.
Wat wilt u meten?
Wij helpen u graag met het vinden van de juiste meetoplossing
Polispec VIS-NIT is een zeer robuuste spectrofotometrische sensor die eenvoudig worden geïntegreerd in/op elk gewenst punt van de productielijn.
Polispec NIR bij uitstek geschikt voor de analyse van zeer verschillende matrices; van de meest reflecterende tot de meest absorberende.
Nauwkeurige spectrale data voor realtime analyse en snelle detectie van materialen en productstromen.
Niet-destructieve analyse van vaste en vloeibare producten van 900 tot 1700 nm
De MV.C VNIR combineert hyperspectrale beeldvorming met hoge scansnelheid, waardoor producten en materialen in realtime kunnen worden geanalyseerd.
Realtime vochtmeting onafhankelijk van kleur, dichtheid en massa. Snel en accuraat het vochtgehalte meten met microgolf resonantie technologie.
Inline vochtmeting onafhankelijk van de afmeting, kleur, bulkdichtheid en massa met gepatenteerde microgolf techniek van TEWS.
Compacte NIR spectrometer voor snelle identificatie en kwantificatie van grondstoffen, monsters en producten
USB-powered NIR spectrometer voor non-invasieve analyse van vaste stoffen en bulkproducten
Bespreek uw uitdaging
Heeft u een vraag over onze meetinstrumentatie of wilt u sparren over uw toepassing? Onze specialisten helpen u graag verder.